GB/T 4942.2-1993 低压电器外壳防护等级
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 4942.2-1993 标准名称:低压电器外壳防护等级 英文名称:Degrees of protection provided by enclosures for low-voltage appa...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 4942.2-1993 标准名称:低压电器外壳防护等级 英文名称:Degrees of protection provided by enclosures for low-voltage appa...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 4942.1-2006 标准名称:旋转电机整体结构的防护等级(IP代码) 分级 英文名称:Degrees of protection provided by the integral design...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 4942.1-2001 标准名称:旋转电机外壳防护分级(IP代码) 英文名称:Classification of degrees of protection provided by enclosu...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 494-1998 标准名称:建筑石油沥青 英文名称:Asphalt used in roofing 标准状态:被代替 发布日期:1998-06-17 实施日期:1998-12-01 出版语种:中文...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 4937-1995 标准名称:半导体器件机械和气候试验方法 英文名称:Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices ...
适用范围 GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。 基本信息 标准号:GB/T 4937.4-2012 标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加...
适用范围 GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。 基本信息 标准号:GB/T 4...
适用范围 GB/T 4937的本部分规定了非密封表面安装器件(SMDs)在可靠性试验前预处理的标准程序。 本部分规定了SMDs的预处理流程。 SMDs在进行规定的室内可靠性试验(鉴定/可靠性监测)前,需按本部分所规定的流程进行适当的预处...
适用范围 GB/T 4937的本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)。 本部分的目的是测量键合强度或确定键合强度是否满足规定的要求。 基本信息 标准号:GB/T 4937.22-2018 标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第...
适用范围 本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力,而这种失效是由于气压减小时,空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1 000 V的器件。 本项试验适用于所...