GB/T 16597-1996 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16597-1996 标准名称:冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则 英文名称:Analytical methods of metallurgical products General rule...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16597-1996 标准名称:冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则 英文名称:Analytical methods of metallurgical products General rule...
适用范围 本标准规定了使用直角坐标和极坐标建立晶片正面坐标系、背面坐标系和三维坐标系的程序。本标准适用于有图形和无图形的晶片坐标系的建立。该坐标系用于确定和记录晶片上的缺陷、颗粒等测试结果的准确位置。 基本信息 标准号:GB/T 165...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16596-1996 标准名称:确定晶片坐标系规范 英文名称:Specification for establishing a wafer coordinate system 标准状态:现行 发布...
适用范围 本标准规定了可用于定量描述圆形半导体晶片表面缺陷的网格图形。本标准适用于标称直径100 mm~200 mm的硅片,也适用于其他半导体材料晶片。 基本信息 标准号:GB/T 16595-2019 标准名称:晶片通用网格规范 英文名称...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16595-1996 标准名称:晶片通用网格规范 英文名称:Specification for a universal wafer grid 标准状态:现行 发布日期:1996-11-04 实施日...
适用范围 本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的通用原则。适用于测量(0.5~10)μm的长度。 基本信息 标准号:GB/T 16594-2008 标准名称:微米级长度的扫描电镜测量方法通则 英文名称:General rules for m...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16594-1996 标准名称:微米级长度的扫描电镜测量方法 英文名称:Micron grade length measurement by SEM 标准状态:被代替 发布日期:1996-11-0...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16593-1996 标准名称:旋转轴唇形密封圈术语 英文名称:Rotary shaft lip type seals—Vocabulary 标准状态:被代替 发布日期:1996-10-28 实施...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16592-1996 标准名称:粉末涂料 烘烤时质量损失的测定 英文名称:Powder coating—Determination of loss of mass on stoving 标准状态:...
适用范围 本标准规定了在-40 ℃~55 ℃环境温度下输送液态或气态形式的氨所用橡胶软管的技术要求。它不包括管接头的规范,只限于软管及软管组合件的使用性能。 基本信息 标准号:GB/T 16591-2013 标准名称:输送无水氨用橡胶软管及...