GB/T 13391-2000 酒家酒店分等定级规定
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 13391-2000 标准名称:酒家酒店分等定级规定 英文名称:Classification and granding directives for restaurants and hotels ...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 13391-2000 标准名称:酒家酒店分等定级规定 英文名称:Classification and granding directives for restaurants and hotels ...
适用范围 本标准规定了金属粉末比表面积的测定方法。 本标准适用于金属粉末比表面积的测定。测定范围0.1 m2/g~1 000 m2/g。非金属粉末及微孔材料的比表面积测定亦可参照使用。 本标准所测定比表面积为粉末的总比表面积,包括氮分子...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 13390-1992 标准名称:金属粉末比表面积的测定 氮吸附法 英文名称:Metallic powder—Determination of the specific surface area—M...
适用范围 本标准规定了掺硼、掺磷、掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度之间的换算关系,该换算关系也适用于掺锑硅单晶,还可扩展至硅中激活能与硼、磷相似的其他掺杂剂。 基本信息 标准号:GB/T 13389-2014 标准名称:掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 13389-1992 标准名称:掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 英文名称:Practice for conversion between resistivity and dopant d...
适用范围 2.1 本标准规定了α角的测量方法,α角为垂直于圆型硅片基准参考平面的晶向与硅片表面参考面间角。2.2 本标准适用于硅片的参考面长度范围应符合GB/T 12964和GB/T 12965中的规定,且硅片角度偏离应在-5°到+5°范围...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 13388-1992 标准名称:硅片参考面结晶学取向X射线测量方法 英文名称:Method for measuring crystallographic orientation of flats ...
适用范围 2.1 本标准涵盖了对晶片边缘平直部分长度的确认方法。 2.2 本标准用于标称圆形晶片边缘平直部分长度小于等于65 mm的电学材料。本标准仅对硅片精度进行确认,预期精度不因材料而改变。 2.3 本标准适用于仲裁测量,当规定的限...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 13387-1992 标准名称:电子材料晶片参考面长度测量方法 英文名称:Test method for measuring flat length on slices of electronic...
适用范围 本标准规定了船舶明火作业条件、可燃气体浓度的测试及风向、风速的测定等安全管理基本技术要求。 本标准适用于航行、停泊、装卸和航修(不包括进厂修理船舶)情况下的海洋营运船舶,不适用于液化气船、散装化学品船。 基本信息 标准号:GB/...