GB/T 14267-2009 光电测距仪
适用范围 本标准规定了相位式和脉冲式光电测距仪的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则,仪器的包装、标志、运输和贮存的方法。 本标准适用于光电测距仪(包括全站仪测距部分及手持式激光测距仪)的设计、生产试验和检验。 基本信息 标准号:GB...
适用范围 本标准规定了相位式和脉冲式光电测距仪的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则,仪器的包装、标志、运输和贮存的方法。 本标准适用于光电测距仪(包括全站仪测距部分及手持式激光测距仪)的设计、生产试验和检验。 基本信息 标准号:GB...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14267-1993 标准名称:短程光电测距仪 英文名称:Short range electro-optic distance-measuring instrument 标准状态:被代替 发布日期...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14266-1993 标准名称:硬质合金旋转锉毛坯 英文名称:Blanks for carbide rotary burs 标准状态:废止转行标 发布日期:1993-03-20 实施日期:1993...
适用范围 本标准规定了用气体分析法测定金属材料中氢、氧、氮、碳和硫的要求和一般规定。本标准适用于制(修)订金属材料中氢、氧、氮、碳和硫的分析方法的国家标准、行业标准、团体标准、企业标准。 基本信息 标准号:GB/T 14265-2017...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14265-1993 标准名称:金属材料中氢、氧、氮、碳和硫分析方法通则 英文名称:General rule of chemical analysis for hydrogen, oxygen, ...
适用范围 本标准规定了半导体材料及其生长工艺、加工、晶体缺陷和表面沾污等方面的主要术语和定义。 本标准适用于元素和化合物半导体材料。 基本信息 标准号:GB/T 14264-2009 标准名称:半导体材料术语 英文名称:Semicondu...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14264-1993 标准名称:半导体材料术语 英文名称:Semiconductor materials—Terms and definitions 标准状态:被代替 发布日期:1993-03-1...
适用范围 本标准规定了散装浮选铜精矿的取样、制样和水分测定的程序及方法。 本标准适用于散装浮选铜精矿的化学成分及水分测定及其他物理项目检测所用试样的采取、制备和水分测定。 基本信息 标准号:GB/T 14263-2010 标准名称:散装浮...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14263-1993 标准名称:散装浮选铜精矿取样、制样方法 英文名称:Methods for sampling and sample preperation of flotation coppe...
适用范围 本标准规定了散装浮选铅精矿的取样、制样和测定水分的程序及方法。 本标准适应于散装浮选铅精矿的化学成分、水分及其他物理项目检测所用试样的采取、制备和水分测定。 基本信息 标准号:GB/T 14262-2010 标准名称:散装浮选铅...