GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片
适用范围 本标准规定了硅单晶抛光片(简称硅抛光片)的牌号及分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容。本标准适用于直拉法、悬浮区熔法(包括中子嬗变掺杂和气相掺杂)制备的直径不大于200 mm的...
适用范围 本标准规定了硅单晶抛光片(简称硅抛光片)的牌号及分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容。本标准适用于直拉法、悬浮区熔法(包括中子嬗变掺杂和气相掺杂)制备的直径不大于200 mm的...
适用范围 本标准规定了多晶硅的要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、储存、质量证明书和订货单(或合同)内容。 本标准适用于以氯硅烷、硅烷制得的多晶硅。 基本信息 标准号:GB/T 12963-2014 标准名称:电子级多晶硅 英文...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 12964-2003 标准名称:硅单晶抛光片 英文名称:Monocrystalline silicon polished wafers 标准状态:现行 发布日期:2003-06-16 实施日期:2...
适用范围 本标准规定了硅多晶的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、运输、贮存。本标准适用于以三氯氢硅或四氯化硅用氢还原法制得的硅多晶。 基本信息 标准号:GB/T 12963-2009 标准名称:硅多晶 英文名称:Specifi...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 12963-1996 标准名称:硅多晶 英文名称:Polycrystalline silicon 标准状态:被代替 发布日期:1996-11-04 实施日期:1997-04-01 出版语种:中文简...
适用范围 本标准规定了硅单晶的牌号及分类、要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容等。本标准适用于直拉法、悬浮区熔法(包括中子嬗变掺杂和气相掺杂)制备的直径不大于200 mm的硅单晶。产品主要用于制...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 12962-2005 标准名称:硅单晶 英文名称:Monoccrystalline silicon 标准状态:被代替 发布日期:2005-09-19 实施日期:2006-04-01 出版语种:中文...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 12962-1996 标准名称:硅单晶 英文名称:Monocrystalline silicon 标准状态:被代替 发布日期:1996-11-04 实施日期:1997-04-01 出版语种:中文版...
适用范围 本标准规定了金属材料夏比冲击试样断口纤维断面率和侧膨胀值的测定方法。 本标准适用于测定金属材料夏比冲击试样断口,其他类型的冲击试样断口,也可参照使用。 基本信息 标准号:GB/T 12778-2008 标准名称:金属夏比冲击断口...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 12778-1991 标准名称:金属夏比冲击断口测定方法 英文名称:Metallic materials—Determination of Charpy impact fracture surfa...