GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
适用范围 1.1 本标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测量方法。本标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。 1.2 本标准为脉冲光方法。这种方法不破坏试样的内在特性,试样可以重复测试,但要求试样具有...
适用范围 1.1 本标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测量方法。本标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。 1.2 本标准为脉冲光方法。这种方法不破坏试样的内在特性,试样可以重复测试,但要求试样具有...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 1553-1997 标准名称:硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 英文名称:Standard test methods for minority carrier lifetime in bu...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 1552-1995 标准名称:硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法 英文名称:Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon...
适用范围 本标准规定节约钢铁材料的评价原则、评价指标及计算方法、技术要求和管理要求。 本标准适用于钢铁材料的生产、加工、使用、流通和废钢铁回收利用单位。 基本信息 标准号:GB/T 15512-2009 标准名称:评价企业节约钢铁材料技术...
适用范围 本方法规定了用直排四探针法测量硅单晶电阻率的方法。本方法适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍的硅单晶体电阻率以及测量直径大于探针间距10倍、厚度小于探针间距4倍的硅单晶圆片的电阻率。本方法...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 1551-1995 标准名称:硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法 英文名称:Test method for resistivity of silicon and germanium bars us...
适用范围 本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。 本标准适用于硅、锗非本征半导体材料导电类型的测试,其他非本征半导体材料可参照本标准测试。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得可靠结果;对于导电类型不均匀的材料,可在其表...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 1550-1997 标准名称:非本征半导体材料导电类型测试方法 英文名称:Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 15393-1994 标准名称:钢丝镀锌层 英文名称:Zinc coatings for steel wire 标准状态:废止转行标 发布日期:1994-12-22 实施日期:1995-10-01...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 15392-1994 标准名称:宽度小于700mm连续热镀锌钢带 英文名称:Continual hot-dip zinc-coated steel strips with a width less...