GB/T 16596-1996 确定晶片坐标系规范
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16596-1996 标准名称:确定晶片坐标系规范 英文名称:Specification for establishing a wafer coordinate system 标准状态:现行 发布...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16596-1996 标准名称:确定晶片坐标系规范 英文名称:Specification for establishing a wafer coordinate system 标准状态:现行 发布...
适用范围 本标准规定了可用于定量描述圆形半导体晶片表面缺陷的网格图形。本标准适用于标称直径100 mm~200 mm的硅片,也适用于其他半导体材料晶片。 基本信息 标准号:GB/T 16595-2019 标准名称:晶片通用网格规范 英文名称...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16595-1996 标准名称:晶片通用网格规范 英文名称:Specification for a universal wafer grid 标准状态:现行 发布日期:1996-11-04 实施日...
适用范围 1.1 本标准规定了在腐蚀性环境中金属及合金腐蚀试样上形成的腐蚀产物的清除方法。 注:本标准中所用术语“金属”代表金属和合金。 基本信息 标准号:GB/T 16545-2015 标准名称:金属和合金的腐蚀 腐蚀试样上腐蚀产物的清...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16545-1996 标准名称:金属和合金的腐蚀 腐蚀试样上腐蚀产物的清除 英文名称:Corrosion of metals and alloys—Removal of corrosion pro...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16544-1996 标准名称:球形储罐γ射线全景曝光照相方法 英文名称:Spherical tank—Radiographic method of gamma ray panoramic exp...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16501-1996 标准名称:铝及铝合金热轧带材 英文名称:Hot rolled strip of aluminium and aluminium alloy 标准状态:废止 发布日期:1996...
适用范围 GB/T 16484的本部分规定了氯化稀土、碳酸轻稀土中氧化镍量的测定方法。本部分适用于氯化稀土、碳酸轻稀土中氧化镍量的测定。测定范围0.002 0%~0.010%。 基本信息 标准号:GB/T 16484.9-2009 标准名称...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 16484.9-1996 标准名称:氯化稀土、碳酸稀土化学分析方法 氧化镍量的测定 英文名称:Methods for chemical analysis of rare earth chlorid...
适用范围 GB/T 16484的本部分规定了氯化稀土、碳酸轻稀土中氧化钠含量的测定方法。 本部分适用于氯化稀土、碳酸轻稀土中氧化钠含量的测定。测定范围:0.05%~2.00%。 基本信息 标准号:GB/T 16484.8-2009 标准...