标准2025GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
适用范围 暂无 基本信息 标准号：GB/T 17473.6-1998 标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 英文名称：Test methods of precious metal pastes used for thic...
冶金 第328页
GB/T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
适用范围 本部分规定了微电子技术用贵金属浆料粘度的测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料粘度的测定。 基本信息 标准号：GB/T 17473.5-2008 标准名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定 英文名称：Test m...
GB/T 17473.5-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
适用范围 暂无 基本信息 标准号：GB/T 17473.5-1998 标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定 英文名称：Test methods of precious metal pastes used for thick...
GB/T 17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
适用范围 本部分规定了微电子技术用贵金属浆料附着力的测试方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料附着力的测定。 基本信息 标准号：GB/T 17473.4-2008 标准名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定 英文名称：Tes...
GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
适用范围 暂无 基本信息 标准号：GB/T 17473.4-1998 标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定 英文名称：Test methods of precious metal pastes used for thic...
GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
适用范围 本部分规定了微电子技术用贵金属浆料方阻的测试方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料方阻的测定。 基本信息 标准号：GB/T 17473.3-2008 标准名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 英文名称：Test me...
GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
适用范围 暂无 基本信息 标准号：GB/T 17473.3-1998 标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 英文名称：Test methods of precious metal pastes used for thick...
GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
适用范围 本部分规定了微电子技术用贵金属浆料细度的刮板测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定。 基本信息 标准号：GB/T 17473.2-2008 标准名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 英文名称：Test m...
GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
适用范围 暂无 基本信息 标准号：GB/T 17473.2-1998 标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 英文名称：Test methods of precious metal pastes used for thick...
GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
适用范围 本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。 本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。 基本信息 标准号：GB/T 17473.1-2008 标准名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含...