GB/T 35310-2017 200 mm硅外延片
适用范围 本标准规定了直径200 mm硅外延片的术语和定义、产品分类、要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存、质量证明书。本标准适用于在N型和P型硅抛光衬底片上外延生长的硅外延片。产品主要用于制作集成电路或半导体器件。 基本...
适用范围 本标准规定了直径200 mm硅外延片的术语和定义、产品分类、要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存、质量证明书。本标准适用于在N型和P型硅抛光衬底片上外延生长的硅外延片。产品主要用于制作集成电路或半导体器件。 基本...
适用范围 本标准规定了用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的代位碳原子浓度、施主杂质浓度和受主杂质浓度的方法。本标准适用于尺寸为600 μm~3 000 μm的颗粒状多晶硅,其他尺寸的颗粒状多晶硅可参照本标准执行。 基本信息 标准号:G...
适用范围 本标准规定了太阳能电池用锗基ⅢⅤ族化合物外延片(以下简称“外延片”)的术语和定义、分类及牌号、要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存和质量证明书。本标准适用于太阳能电池用锗基ⅢⅤ族化合物外延片。 基本信息 标准...
适用范围 本标准规定了流化床法生产的颗粒硅的术语和定义、要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容。本标准适用于以硅烷气为原料,采用流化床法生产的颗粒状多晶硅产品。 基本信息 标准号:GB/T ...
适用范围 本标准规定了低温傅立叶变换红外光谱法测定硅单晶中代位碳、间隙氧杂质含量的方法。本标准适用于室温电阻率大于0.1 Ω·cm的N型硅单晶和室温电阻率大于0.5 Ω·cm的P型硅单晶中代位碳、间隙氧杂质含量的测定。本标准测定碳、氧含...
适用范围 本标准规定了太阳能电池用砷化镓单晶抛光片的要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存和质量证明书。本标准适用于太阳能电池用砷化镓单晶抛光片(以下简称砷化镓抛光片)。 基本信息 标准号:GB/T 35305-2017 标准...
适用范围 本标准规定了碳素结构钢和低合金结构钢热轧钢带的分类和代号、订货内容、尺寸、外形、重量及允许偏差、技术要求、试验方法、验收规则、包装、标志和质量证明书等规定。 本标准适用于厚度不大于12.00 mm、宽度不大于600 mm的碳素结...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 3524-2005 标准名称:碳素结构钢和低合金结构钢热轧钢带 英文名称:Hot-rolled carbon and low alloy structural steel strips 标准状态:...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 3524-1992 标准名称:碳素结构钢和低合金结构钢热轧钢带 英文名称:Hot-rolled cardon and low alloy structural steel strips 标准状态:...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 3522-1983 标准名称:优质碳素结构钢冷轧钢带 英文名称:Cold-rolled quality carbon structural steel strips 标准状态:现行 发布日期:19...