GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾
适用范围 GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法,以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。 本试验是破坏性试验。 本试验总体上符合IEC ...
适用范围 GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法,以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。 本试验是破坏性试验。 本试验总体上符合IEC ...
适用范围 GB/T 4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内,振动对器件的影响。本试验是破坏性试验,通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。 基本信息 ...
适用范围 本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。 当本部分与相应的详细规范有矛盾时,以详细规范为准。 基本信息 标准号:GB/T 4937.1-2006 标准名称:半导体器件 机械...
适用范围 GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化–双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气空气温度循环又可以采用快速温度变化–双液槽法试验时,优先采用空气空气温度循环试验。本试验也可采用少量循环(5次~...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 4932-2000 标准名称:二氧化碳激光器系列型谱 英文名称:The series and type spectrum for carbon dioxide lasers 标准状态:废止 发布日...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 4931-2000 标准名称:氦氖激光器系列型谱 英文名称:The series and type spectrum for helium neon lasers 标准状态:废止 发布日期:200...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 4874-1985 标准名称:直流固定金属化纸介电容器总规范 英文名称:Generic specification for fixed metallized paper dielectric ca...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 4873-1985 标准名称:信息处理用连续格式纸 尺寸和输送孔 英文名称:Continuous forms used for information processing—Sizes and f...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 4872-1985 标准名称:办公机器和数据处理设备键盘上控制键定位的原则 英文名称:Office machines and data processing equipment—Principle...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 4855-1984 标准名称:半导体集成电路线性放大器系列和品种 英文名称:Families and products of linear amplifier for semiconductor ...