GB/T 6217-1998 半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第一篇 高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 6217-1998 标准名称:半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第一篇 高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范 英文名称:Semiconductor devices-Discre...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 6217-1998 标准名称:半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第一篇 高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范 英文名称:Semiconductor devices-Discre...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 6207-1986 标准名称:示波管和指示管空白详细规范(可供认证用) 英文名称:Blank detail specification for oscilloscope tubes and ind...
适用范围 本标准规定了黑白显像管产品详细规范的编写格式和基本内容。本标准适用于黑白电视显像管(以下简称显像管)。 基本信息 标准号:GB/T 6206-2015 标准名称:黑白显像管空白详细规范 英文名称:Blank detail s...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 6206-1986 标准名称:黑白显象管空白详细规范(可供认证用) 英文名称:Blank detail specification for black and white picture tube...
适用范围 GB/T (Z) 6113的本部分规定了依据CISPR骚扰限值对受试设备(EUT)进行符合性判定时如何应用测量设备和设施的不确定度(MIU)的方法。当测量结果和结论受到测试用测量设备和设施的不确定度的影响时,本部分的内容也与电磁兼...
适用范围 GB/T 6113的本部分属于电磁兼容基础标准。本部分规定了在判定是否符合CISPR限值时考虑测量不确定度的方法。当所得到的结果和结论受到所用测量设备和设施的不确定度的影响时,本部分的内容也与电磁兼容测试有关。附录A给出了一些背景...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 6113.2-1998 标准名称:无线电骚扰和抗扰度测量方法 英文名称:Methods of measurement of radio disturbance and immunity 标准状态:...
适用范围 本部分为基础标准GB/T 6113《无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范》系列中的2-4部分,规定了9 kHz~18 GHz频率范围内电磁兼容抗扰度现象的测量方法。 基本信息 标准号:GB/T 6113.204-2008 标准...
适用范围 GB/T 6113的本部分规定了9 kHz~18 GHz频段范围内辐射骚扰的测量方法。关于测量不确定度的描述见CISPR 16-4-1及CISPR 16-4-2。 注: 依据IEC 107导则,本部分为IEC所属产品委员会使用的...
适用范围 本部分为基础标准GB/T 6113《无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范》系列中的第23部分,规定了 9 kHz~18 GHz频段范围内辐射骚扰的测量方法。 基本信息 标准号:GB/T 6113.203-2008 标准名称:...