GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
适用范围 本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路模拟开关,也适用于多路转换器参数的测试。 基本信息 标准号:GB/T 14028-2018 标准名称:半导体集成电...
适用范围 本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路模拟开关,也适用于多路转换器参数的测试。 基本信息 标准号:GB/T 14028-2018 标准名称:半导体集成电...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14028-1992 标准名称:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 英文名称:General principles of measuring methods of analogue swit...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14025-1992 标准名称:半导体集成电路门阵列电路系列和品种 ECL系列的品种 英文名称:Series and products for semiconductor gate array i...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14026-1992 标准名称:半导体集成电路微型计算机电路系列和品种80C86系列的品种 英文名称:Series and products of microcomputers for semic...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14015-1992 标准名称:硅-蓝宝石外延片 英文名称:Silicon on sapphire epitaxial wafers 标准状态:现行 发布日期:1992-12-28 实施日期:19...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14012-1992 标准名称:黑白显象管玻壳总规范(可供认证用) 英文名称:Generial specification for black-and-white picture tube bul...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14011-1992 标准名称:阴极射线管X射线辐射测试方法 英文名称:Methods of measurement of X-radiation for cathode-ray tubes 标准...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14010-1992 标准名称:阴极射线管玻壳试验方法 英文名称:Methods of test for cathode-ray tube bulbs 标准状态:现行 发布日期:1992-12-1...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14006.3-1997 标准名称:通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸 第3部分:使用YUI-1系列铁心片的变压器和电感器 英文名称:Outline dimensions of transfo...
适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14006-1992 标准名称:通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸 第一部分:采用YEI-1铁心片的变压器和电感器 英文名称:Outline dimensions of transformer...