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电子元器件与信息技术 第319页

GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法

适用范围 本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路模拟开关,也适用于多路转换器参数的测试。 基本信息 标准号:GB/T 14028-2018 标准名称:半导体集成电...

GB/T 14015-1992 硅-蓝宝石外延片

适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14015-1992 标准名称:硅-蓝宝石外延片 英文名称:Silicon on sapphire epitaxial wafers 标准状态:现行 发布日期:1992-12-28 实施日期:19...

GB/T 14010-1992 阴极射线管玻壳试验方法

适用范围 暂无 基本信息 标准号:GB/T 14010-1992 标准名称:阴极射线管玻壳试验方法 英文名称:Methods of test for cathode-ray tube bulbs 标准状态:现行 发布日期:1992-12-1...

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