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电子元器件与信息技术 第140页

GB/T 30118-2013 声表面波(SAW)器件用单晶晶片 规范与测量方法

适用范围 本标准规定了人造石英、铌酸锂(LN)、钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸镓镧(LGS)等单晶晶片等。 本标准适用于人造石英、铌酸锂(LN)、钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸镓镧(LGS)等单晶晶片。这些单晶晶片用作...

GB/T 30116-2013 半导体生产设施电磁兼容性要求

适用范围 本标准规定了为保证半导体生产设施与用于生产半导体器件的设备能一起可靠运行的电磁兼容性(EMC)要求。 本标准适用于生产半导体器件的设施和设备,这些设施和设备涵盖所有的设施警报、安全、通信与控制系统、工艺设备、测量设备、自动化设备...

GB/T 30091-2013 薄膜键盘技术条件

适用范围 本标准规定了薄膜键盘的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于开关功率小于1W,最大工作电压42 V(DC)或25 V(AC),最大工作电流小于100 mA的薄膜键盘。线路载体为硬性基板的...

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